ОЧИСТКА СЕЛЕНА ОТ ПРИМЕСЕЙ K, Th, U, Ra И Ac И ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ ДЛЯ НИЗКОФОНОВЫХ ИЗМЕРЕНИЙ

Speaker

Mr Alimardon Rakhimov (Joint Institute for Nuclear Research (Dubna))

Description

Последнее время одним из основных направлений физики становится исследование редких процессов, таких как поиск частиц темной материи, изучение двойного бета-распада, регистрация нейтрино и др. Особенную актуальность поиск безнейтринной моды двойного бета-распада (0ν2β) приобрел после обнаружения осцилляции нейтрино в экспериментах SuperKamiokande, SNO, KamLAND, K2K. Эксперименты по изучению редких процессов обычно проводятся в низкофоновых подземных лабораториях. Материалы экспериментальных установок (детекторы, защита и др.) должны иметь низкий уровень радиоактивности. Особая требовательность по чистоте от загрязнения радионуклидами предъявляется к измеряемым образцам. В последнее время большое внимание уделяется защите от излучения радона. Se-82 является одним из самых подходящих изотопов для изучения весьма редких процессов двойного бета-распада и поиска безнейтринной моды двойного бета-распада. Для того чтобы повысить чувствительность измерений необходима его глубокая очистка от радиоактивных примесей для дальнейшего использования в эксперименте SuperNEMO. Это предполагает развитие уникальных методов очистки, учитывающих количество и чистоту используемых химических реактивов, а также методы анализа. Исходя из этого, нами была разработана и применена методика очистки селена для низкофоновых измерений, которая основана на ионообменном хроматографическом разделении макроколичеств селена от ультрамалых количеств Th-232, U-238, Ra-226, 228, Ac-227 и К-40, с периодическим изменением направления потока элюента (реверс), при котором достигается более полное удаление примесей без потери очищаемого элемента. Чистота используемых при этом реактивов (вода, азотная кислота) определена с очень низкими пределами обнаружения примесей с помощью нейтронно-активационного анализа (НАА), обладающего высокой чувствительностью к определению низких концентраций элементов, в том числе тория и урана. Гамма-спектрометрические измерения очищенного селена в низкофоновых условиях и определение примесей с помощью масс-спектрометрического анализа подтвердили очень высокую степень очистки материала, что позволяет проводить низкофоновые исследования Se-82 с высокой точностью. Полученные данные по очистке селена свидетельствуют о мировом уровне полученных результатов.

Presentation materials